当仪器扫过点A和点B时，点A和点B的干涉条纹高度峰值之间的差即为AB两点的高度差白光干涉仪AM系列扫描电镜则是一种利用电子束扫描样品表面并检测二次电子等信号的显微镜扫描电镜的原理是电子束与样品相互作用后；测试很小的有机薄膜状样品的物质成分用什么仪器XRDSEM和AFM测试没有固定的先后顺序1XRDXrayd...