四探针测试仪实验报告

三琦高温四探针夹具是依据电性能测量四探针方法并针对高温环境进行设计由四个独立的探针调节装置高温高频探针调节支撑架样品平台隔热层接线盒组成探针调节装置具有三维精确调节功能，精确定位探针的位置探针调节装置具有粗调功能，有效增大探针的调节范围探针调节装置带探针压力调节功能，确保；与传统的单探针测量不同，四探针测试仪采用两对探针，通过交替接触被测样品的不同位置，形成一个虚拟的电流路径这种设计确保了测量过程中对温度电压分布的控制，从而得到更准确的电阻率值测量过程中，通过复杂的电路理论，仪器能精确计算出样品内部电阻分布，避免了表面效应带来的误差而四探针方块测。

粉末电阻率测试仪市场上有很多，质量也有残差不齐，以次充好等现象建议客户找专业的生产厂家为好，粉末电阻率测试仪，一按照测试的材料性质，可以分为导体粉末电阻率测试仪自动多功能型和手动型四探针粉末电导率测试仪自动多功能型和手动型绝缘粉末电阻率测试仪自动多功能型和手动型这；1土湿传感器采用4探针环形结构设计，可以测量环形内的面积，测量面积大稳定性高23探针扁形结构只能测量条形区域，探针测点少，稳定性差。

OminMap 是RS35四探针测试仪的名字，没有特别的意思由Prometrix公司生产Prometrix公司的四探针生产部门在1990年代由Tencor公司兼并Tencor公司继续制造四探针测试仪并保留原来的公司名称及产品名字后又有RS55RS75等型号KLA公司和Tencor公司于1997年合并为KLATencor公司；大多数方块电阻测试仪采用的计算公式是R=4532*VI其中V是23探针的电压I是14探针的电流如果仅考虑仪器测准的较准不考虑仪器的负载能力，最简单的方法将12探针并联后，与一个1欧姆的精密电阻或标准电阻的一端相连34探针并联后，再与精密电阻的另一端相连这时方块。

一，测试原理 当四根金属探针排成一条直线，并以一定压力压在半导体材料上时，在1，4两根探针间通过电流I，则2，3探针间产生电位差V如图所示 根据公式可计算出材料的电阻率 其中，C为四探针的探针系数cm，它的大小取决于四根探针的排列方法和针距 二，仪器操作 一测试前的准备 1，将电源插头插入；本仪器适用于半导体材料厂半导体器件厂科研单位高等院校对半导体材料的电阻性能测试四探针软件测试系统是一个运行在计算机上拥有友好测试界面的用户程序，通过此测试程序辅助使用户简便地进行各项测试及获得测试数据并对测试数据进行统计分析测试程序控制四探针测试仪进行测量并采集测试数据，把采集到的。

四探针测试仪原理

电化学工作站和四探电阻的区别1电化学工作站是电化学测量系统的简称，具有四探针电阻率测试方法是电化学研究和教学常用的测量设备其主要有2大类，单通道工作站和多通道工作站，应用于生物技术物质的定性定量分析等2四探针法通常用来测量半导体的电阻率四探针法测量电阻率有个非常大的优点。

电子探针是通过向样品表面发射电子，利用电子和样品的相互作用来探测样品性质的一种表面分析技术它可以提供高空间分辨率和高灵敏度的表面形貌组成和电子结构等信息而二探针和四探针则是两种电学性质测量方法二探针法是利用探针与样品之间的接触阻抗来测量电阻电导率等电学参数四探针法则通过四个。

显微成像设备主要包括光学显微镜扫描电子显微镜等，用于材料显微结构图像的观察和分析2化学分析设备主要包括电子探针能谱仪拉曼光谱仪等，用于化学成分的检测和分析3物理性能测试设备主要有电阻率测试仪热膨胀系数测试仪等，用于材料物理参数的测试和分析。

三琦介电温谱仪中的两探针和四探针测试夹具在硬件配置上，一个是采用四根探针，一个是采用两根探针高温两探针夹具是为方便操作，减少测试干扰源，在高温四探针夹具的基础上做简化设计高温四探针夹具主要采用四探针法测量电阻，主要是为了消除接触电阻的影响，一般测试电阻较小的材料高温四探针的频率。

· 开启地阻仪电源开关“ON”，选择合适挡位轻按一下键该档指标灯亮，表头LCD显示的数值即为被测得的地电阻2土壤电阻率测量如图二图二 · 测量时在被测的土壤中沿直线插入四根探针，并使各探针间距相等，各间距的距离为L，要求探针入地深度为L20cm，用导线分别从C1P1P2C2各端子。

· 用专用导线将地阻仪端子EC2P2P1C1与探针所在位置对应联接· 开启地阻仪电源开关“ON”，选择合适挡位轻按一下键该档指标灯亮，表头LCD显示的数值即为被测得的地电阻2土壤电阻率测量如图二· 测量时在被测的土壤中沿直线插入四根探针，并使各探针间距相等，各间距的距离为。

四探针测试仪操作

仪器的工作原理如图1所示测试仪的基本原理仍然是恒流源给探针头14探针提供稳定的测量电流I由DVM1监测，探针头23探针测取电位差V由DVM2测量，由下式即可计算出材料的电阻率厚度小于4倍探针间距的样片均可按下式计算式中VDVM2的读数，mV IDVM1的读数，mA W被测样片的厚度。

EC80P非接触式电阻测量仪是向被测材料发射电磁波，然后检测材料中产生的电涡流大小来检测电阻率的材料电阻率不同，产生的涡流强度也不同测量时探头不要求紧密接触材料4探针电阻率测量仪，则是用精密的恒定电流通过探针注入材料，然后检测电流经过的途径上两点之间的微电压，经计算后得到材料电阻。