(薄膜厚度检测仪)

　　赛默斐视SIMV是国内技术领先的薄膜表面瑕疵在线检测系统设备供应商，其薄膜表面瑕疵在线检测系统，拥有国内技术先进的薄膜表面瑕疵动态阈值图像处理算法，能够有效的对薄膜在线检测过程中的划伤类瑕疵缺陷进行精确的检测，薄膜瑕疵检测精度高达0.01mm，开创了国内薄膜在线检测系统领域技术的新领域。

　　目前国内在机器视觉表面瑕疵在线检测领域的设备厂家众多，但是标准都比较杂乱，而且检测系统的技术门槛相对较低，只能解决常规的例如：晶点、灰尘、毛屑、黑点、蚊虫、孔洞、异物等瑕疵，但是对于在光学膜、保护膜领域的深浅划伤类瑕疵的检测的功能却一直空缺，再加上高速运行的生产线人眼根本没法对细小的划伤进行在线薄膜检测，赛默斐视SIMV薄膜瑕疵在线检测系统，引进国外先进技术、及多年的国外技术经验积累，开创了国内首家能够对薄膜划伤类缺陷进行100%在线控制的先进在线检测系统，并且已经在国内诸多薄膜厂家成熟稳定运用。随着大屏手机、电脑用量的不断提升，光学膜、保护膜对于薄膜划伤类瑕疵的要求不断提高，能够精确的对薄膜瑕疵类缺陷进行检测是顺应科技发展的趋势。

　　传统的检测方法对于薄膜表面出现的较小的晶点、划伤等缺陷不能及时、准确的检测出来，如果不及时发现此类缺陷，就会造成产品质量的下降，生产成本的浪 费，从而遭到客户的投诉给公司的效益带来更大的损失。目前国内对于较小晶点、划伤的判定主要还是通过人眼的抽检，但是加上抽检的不确定性以及人眼的疲劳等 不确定因素，使得国内的薄膜生产厂家对于晶点、划伤的检测的需求变得日迫切。

针对国内机器视觉在薄膜检测行业的不足，赛默斐视SIMV特定开发了针对薄膜表面出现的晶点、划伤等缺陷的一套完整的薄膜表面瑕疵在线检测系统，并运用特定的亮度、波长、频段的特殊工业LED光源，通过调节特定的角度并结合我公司先进的图像处理算法，以及表面的图像处理技术，结合先进的图像自动判别相机，可以有效的将各类薄膜表面的常见的瑕疵(包括晶点及划伤)检测出来。下图是我公司采用传统检测方法对薄膜表面的晶点、划伤与在我公司的特定技术条件下对晶点、划伤的检测的一个比较：

　　传统方法检测的图片：

　　由上图可以看出，薄膜表面的小晶点以细小的划伤都不能够明显的检测出来，而且相机所拍摄到的图片上显示的缺陷的灰度对比很小，也不明显，所以运用这种传统 方法对于表面的此类缺陷的检测效果很差，往往不能满足生产厂家的要求，目前国内众多的机器视觉检测厂家都运用这种传统的检测方法进行检测，所以在检测过程 中产生缺陷漏检等现象的发生;

　　由上图可以清楚的看到在我公司的特殊技术处理之后的检测图像，可以清晰的看到薄膜表面的细小的晶点、轻微的划伤，以及其他的一些瑕疵都可以在我们公司的这套技术的检测条件下清楚的拍摄出来，同时可以发现赛默斐视SIMV薄膜表面瑕疵在线检测系统的已经处于了国内领先水平，这套检测技术可以为广大的薄膜生产企业解决晶点、轻微划伤的问题；

　　赛默斐视薄膜表面瑕疵在线检测系统技术的优势在于：

　　1.避免了传统表面划伤检测过程中的对于划伤检测的多角度问题带来的昂贵的硬件配置导致的昂贵的价格，通过我公司这套系统的运用可以有效的节约系统本身配置的运用，节省项目的开支，从而节约了成本；

　　2.可以更加有效的使相机拍摄薄膜表面的图像，同时使拍摄到的图像能够清楚的区分灰阶，使得对于缺陷的判定更加准确；